泰克 TMT4 容限測試儀是同類(lèi)產(chǎn)品中專(zhuān)業(yè)級 PCIe 測試工具,可快速輕松地評估 PCIe Gen 3 (8 GT/s) 和 Gen 4 (16 Gt/s) 設備的鏈路運行狀況。它支持 CEM、M.2、U.2 和 U.3 等最常見(jiàn)的 PCIe 形狀因數,能夠與當今可用的大多數 PCIe 設備進(jìn)行連接。
借助支持 PCIe 的 16 通道高密度線(xiàn)纜和連接器,該容限測試儀可在數秒內經(jīng)過(guò)適配后測試系統板或擴展卡。在短短 2 分鐘內即可完成 PCIe Gen 3 和 Gen 4 設備的發(fā)射器和接收器鏈路運行狀況的評估。它確實(shí)獨樹(shù)一幟。
TMT4 容限測試儀重構了 PCIe 鏈路運行狀況的測試方式。作為被測設備 (DUT) 的有源鏈路助手,該儀器能夠直接控制 DUT 的預設和鏈路訓練參數,從而可逐個(gè)通道或逐個(gè)預設深入了解潛在的設計缺陷。評估 PCIe Gen 3 和 Gen 4 設備的鏈路運行狀況從未如此簡(jiǎn)單。
TMT4 容限測試儀專(zhuān)為現代工程師而設計。如今,過(guò)長(cháng)的測試時(shí)間和復雜的設備設置通常會(huì )導致設計和驗證工程師遇到測試瓶頸。TMT4 在設計時(shí)充分考慮了這兩個(gè)挑戰,并對測試時(shí)間和易用性給出了相應的解決方案。
TMT4 在短短 5 分鐘內即可完成設置并準備好測試,而優(yōu)化的用戶(hù)界面使測試變得比以往更輕松。借助這些改進(jìn),泰克在評估 PCIe Gen 3 和 Gen 4 設備的鏈路運行狀況方面充分響應了現代工程師的需求。
支持的 PCIe Gen 3 (8 GT/s) 和 Gen 4 (16 Gt/s) 速度
支持多達 16 條通道的鏈路帶寬
支持 CEM、M.2、U.2 和 U.3 設備
兩種掃描選項:快速掃描和自定義掃描
為每個(gè)測試的通道提供 DUT 發(fā)射器 (Tx) 眼圖和鏈路訓練參數
為每個(gè)測試的通道提供 DUT 功能接收器 (Rx) 評估
TMT4 容限測試儀平臺支持 11 種標準 PCIe 適配器,可用于測試系統板和擴展卡。這使用戶(hù)可以測試各種可能的 DUT,并可評估最常見(jiàn)的 PC 組件,如主板、顯卡和 SSD,這是連接和測試 PCIe 設備的一種簡(jiǎn)單方法。
除了 M.2 Edge(具有可適應特定損耗條件的集成線(xiàn)纜)之外,所有適配器均可使用標準 16 通道高密度線(xiàn)纜輕松互換。這為用戶(hù)提供了在數秒內輕松切換 PCIe 形狀因數的靈活性,并可最大限度地減少測試之間的停機時(shí)間。
DUT 發(fā)射器 (Tx) 測試經(jīng)過(guò)優(yōu)化,只需幾分鐘便可讓您深入了解 DUT 發(fā)射器路徑性能。對于當今的工程師而言,評估其 DUT 的全鏈路帶寬 Tx 性能通常需要數天甚至數周的時(shí)間。借助 TMT4 容限測試儀,可以在短短 2 分鐘內完成 Gen 4 設備的高級鏈路運行狀況評估。
此測試讓用戶(hù)可以快速查看容限測試儀與 DUT 之間鏈路的眼圖,并顯示用于張開(kāi)眼圖的相關(guān)鏈路訓練參數。這些信息使團隊能夠對鏈路進(jìn)行更頻繁的性能檢查,并快速識別任何通道和預設組合的總誤差。
這對于設計和驗證工程師尤其有用,因為他們通常會(huì )因傳統示波器和 BERT 測試設備的測試時(shí)間漫長(cháng)而遇到瓶頸。例如,如果工程師想要快速查看 BIOS 更改對鏈路運行狀況的影響,他們可以?huà)呙?DUT、更新 BIOS、再次掃描 DUT,并在幾分鐘內評估這些更改對鏈路性能的影響。
作為 DUT Tx 測試的一部分,向用戶(hù)顯示每個(gè)通道/預設組合的眼圖,這些眼圖表示 DUT 和容限測試儀之間鏈路的無(wú)差錯區域。
容限測試儀的主要優(yōu)點(diǎn)是用戶(hù)可以極快速度生成這些眼圖。由于是向用戶(hù)實(shí)時(shí)顯示眼圖,因此只需幾秒鐘便可顯示結果。這種極速大大縮短了深入了解 DUT 鏈路運行狀況的時(shí)間。隨著(zhù)工程師面臨的產(chǎn)品快速上市壓力不斷增加,容限測試儀將速度為設計和驗證團隊提供深入見(jiàn)解。
容限測試儀不僅可通過(guò)顯示眼圖來(lái)顯示鏈路的性能,還能顯示如何調整容限測試儀的接收器來(lái)充分利用生成的眼圖。掌握這兩項信息對于了解鏈路性能至關(guān)重要,因為有些眼圖可能需要特別高水平的均衡才能形成鏈路。在向用戶(hù)顯示的表格中,容限測試儀顯示衰減、VGA(增益)、CTLE 和 5 個(gè) DFE 抽頭值,這些參數可用于充分張開(kāi)眼圖。使用此功能,用戶(hù)可以快速查看所顯示的每個(gè)眼圖需要的均衡程度。下表顯示了每個(gè)均衡設置的可能取值范圍。
均衡 | 可能設置的數量 | 范圍 |
---|---|---|
衰減 | 8 | ?10.0 dB 至 -2.0 dB |
VGA | 15 | 0.0 dB 至 +8.0 dB |
CTLE | 32 | +2.0 dB 至 +15.0 dB |
DFE 抽頭 1 | 256 | -55.0 mV 至 +55.0 mV(典型值1) |
DFE 抽頭 2 | 128 | -44.0 mV 至 +43.3 mV |
DFE 抽頭 3 | 128 | -22.0 mV 至 +21.7 mV |
DFE 抽頭 4 | 128 | -16.0 mV 至 +15.8 mV |
DFE 抽頭 5 | 128 | -11.0 mV 至 +10.8 mV |
通過(guò)查看這些設置,工程師不僅能夠通過(guò)眼圖快速了解其鏈路的性能,還能更加深入地了解用于張開(kāi)眼圖的均衡設置。如果眼圖張開(kāi)很大,但均衡設置被推至最大值,則可能表明給定的通道和預設組合存在一些性能注意事項。眼圖本身并非總能反映性能全貌。
DUT 接收器 (Rx) 測試功能是對 DUT 接收器路徑進(jìn)行功能評估。該測試旨在確定在操作范圍內從容限測試儀發(fā)射的信號在返回錯誤之前的衰減程度。這使工程師能夠在短短 30 秒內輕松評估功能性 Rx 鏈路的運行狀況,與現有設備相比,節省了寶貴的時(shí)間和精力。
此快速測試包括容限測試儀和 DUT 之間的鏈路,其中 DUT 選擇用于通信的預設。然后,容限測試儀通過(guò)在預期操作范圍內按通道/預設減少主光標值來(lái)逐步降低發(fā)射振幅。
使用此方法,用戶(hù)可以在不到一分鐘的時(shí)間內獲得對其 Rx 性能的高級評估,并確定是否存在任何值得使用其他設備進(jìn)一步調查的通道問(wèn)題。如果未指示錯誤,這將被視為功能合格。如果發(fā)現錯誤,則會(huì )向用戶(hù)顯示發(fā)生錯誤的主光標值,并將該測試結果視為功能性故障。
TMT4 提供兩種掃描選項:快速掃描和自定義掃描。兩種掃描類(lèi)型均包括 DUT Tx 和 DUT Rx 測試,可以利用相同的物理設置運行掃描,但允許用戶(hù)進(jìn)行不同級別的控制。每種掃描選項都有其自身的優(yōu)勢。
快速掃描是速度最快的選項,用戶(hù)幾乎不用控制特定的測試參數。該掃描可指示 DUT 和容限測試儀之間的鏈路在 DUT 的速度和最大帶寬下經(jīng)過(guò)自然鏈路訓練后的運行狀況,最高可評估 Gen 4 x16。
此測試能夠在整個(gè)設計過(guò)程中經(jīng)過(guò)自然鏈路協(xié)商后更頻繁地評估鏈路的運行狀況,以查看物理層、固件和 BIOS 設置隨著(zhù)時(shí)間推移發(fā)生變化的一般趨勢。掃描結果包括從每個(gè)訓練通道到協(xié)商預設的眼圖、相關(guān)鏈路訓練參數和功能性 Rx 測試,所有這些均可在幾分鐘內完成。與通常設置傳統測試設備相比,這使用戶(hù)能夠以更快的速度評估其 DUT 與 TMT4 之間鏈路的運行狀況。
Gen 4 x16 鏈路的大約測試時(shí)間:2-4 分鐘
自定義掃描在測試方面為用戶(hù)提供更大的靈活性,并使用戶(hù)能夠具體的測試參數以對其 Tx 信號路徑進(jìn)行的評估。在自定義掃描中,用戶(hù)可以選擇:
代數(PCIe Gen 3 或 Gen 4)
通道(在鏈路帶寬內)
預設(預設 0 – 預設 9)
時(shí)鐘設置(SSC 或 SRI)
通過(guò)/失敗限值
自定義掃描用于以下情況:需要深入調查特定的通道/預設組合,或需要對所有通道和預設進(jìn)行更全面的測試。用戶(hù)可以自己的通過(guò)/失敗限值,容限測試儀將標記超出這些限值的任何結果。
自定義掃描的結果與快速掃描的結果不同。在自定義掃描中,結果分層結構允許根據所測試的代數或代數中的測試類(lèi)型來(lái)展開(kāi)和折疊數據。Tx 眼圖和鏈路訓練參數表結果均可配置為按測試的通道或測試的預設查看。這使用戶(hù)能夠在 30 分鐘內快速查看所有圖表的結果,并就任何給定通道或預設組合(最多 160 個(gè)通道/預設組合)的性能得出結論。
針對 Gen 4 x16 所有通道/預設的大約測試時(shí)間:25-30 分鐘
可將任何掃描的結果快速輕松地保存至 .zip 文件中。所有表格數據(如鏈路訓練參數和原始眼圖測量值)均可保存為 .csv 文件,眼圖圖像保存為 .png 文件。
可通過(guò)三個(gè)單獨的用戶(hù)界面控制 TMT4 容限測試儀:前面板 UI、Web 瀏覽器 UI 或 REST API。Web 瀏覽器和 REST API 均可讓用戶(hù)遠程控制儀器。
前面板用戶(hù)界面僅供快速使用,它能夠運行快速掃描、查看結果、導出數據以及訪(fǎng)問(wèn)設備的 IP 地址。為了能夠運行自定義掃描,用戶(hù)必須通過(guò) REST API 使用 Web 瀏覽器用戶(hù)界面或編程界面。
基于 Web 的瀏覽器界面那些希望訪(fǎng)問(wèn)更多容限測試儀功能(相比前面板訪(fǎng)問(wèn))的用戶(hù)。通過(guò)此界面,用戶(hù)可以訪(fǎng)問(wèn)快速掃描和自定義掃描、保存/調用結果和輔助功能菜單,以查看固件版本和導出錯誤日志;所有這些功能均可通過(guò)直觀(guān)、易用的 Web UI 來(lái)實(shí)現。
要訪(fǎng)問(wèn)基于 Web 的瀏覽器界面,用戶(hù)必須通過(guò)儀器背面的以太網(wǎng)端口將容限測試儀連接至本地網(wǎng)絡(luò )或點(diǎn)對點(diǎn)連接至 PC。容限測試儀具有專(zhuān)用 IP 地址(連接至本地網(wǎng)絡(luò )或 PC 后可配置該地址),允許用戶(hù)通過(guò)將容限測試儀上顯示的 IP 地址輸入支持的 Web 瀏覽器(包括 Google Chrome、Firefox 和 Microsoft Edge)來(lái)連接至 UI。
容限測試儀還支持通過(guò) REST API 進(jìn)行編程控制。API 允許用戶(hù)選擇合適的編程語(yǔ)言,非常適合工程師在自動(dòng)化應用中使用。
TMT4 容限測試儀用戶(hù)手冊中提供了如何使用 REST API 的文檔。
為了使容限測試儀成功掃描 DUT,DUT 必須支持一組要求。這些要求包括:
DUT 必須能夠在 Gen 3 (8 GT/s) 和/或 Gen 4 (16 Gt/s) 速度下達到 L0 狀態(tài)。
DUT 必須支持 PCIe 協(xié)議并能夠處理 PERST(重置)信號。
必須將鏈路訓練為至少 x1 帶寬。
要測試的選定通道必須在當前鏈路帶寬范圍內。
DUT 必須能夠通過(guò)協(xié)議強制進(jìn)入不同的 Tx 預設。
DUT 必須能夠自控返回到 L0 狀態(tài),無(wú)需人工干預。
如果需要,擴展卡必須支持自身功率超過(guò) 75 W。TMT4 為 AIC 提供高達 75 W 的功率。
必須將端點(diǎn) DUT 配置為擴展卡,必須將根端口 DUT 配置為系統板。
DUT 必須從容限測試儀中選擇標準 PCIe 預設 (0-9) 才能執行 Rx 測試。
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